全球首款基于 PIC 的大规模并行 FMCW 激光雷达为振动测量和 3D 计量领域带来了期待已久的革命
在当今快速发展的测量工具领域，实现数十微米以内的精度并高效扫描大型复杂结构，已成为汽车、航空和土木工程等行业的必备要求。为了满足对更快速、更精确的振动计和计量扫描仪日益增长的需求，Ommatidia 开发了全球首款由 光子集成电路 驱动的大规模并行 FMCW 激光雷达 （PICs）。
光子集成电路与大规模并行激光
这项专利技术使 Ommatidia 的激光雷达能够同时测量多达 128 个通道，相比依赖单通道系统的传统方法（如激光雷达、激光多普勒振动计 (LDV)、LiDAR、传统测量设备或光学测量工具）实现了巨大的飞跃。
干涉测量与激光多普勒振动测量
光子集成电路与大规模并行激光雷达的结合，为计量和测量工具树立了新标准。因此，从频率响应函数研究到利用振动分析测试新设备，Ommatidia 的技术都提供了无与伦比的价值。 通过在单一工具中结合干涉测量与激光多普勒振动计技术，Q 系列系统能够以微米级精度测量振动和运动。这种独特的方法确保了可靠的数据，适用于结构健康监测 (SHM) 的无损检测 (NDT)、状态监测、工作模态分析等领域。
我们的 Q1 和 Q2 系统处于领先地位，为工程师和研究人员提供了应对振动设备分析、光学计量等挑战的工具。无论您是从事航空航天领域的航空弹性力学研究，还是确保土木工程中的结构完整性，Ommatidia 的激光雷达都能提供您所需的精度、速度和适应性。
为什么 Q1 激光雷达脱颖而出？
- 计量级精度： 即使是针对最复杂的几何形状，也能实现低至几十微米的测量精度。
- 快速数据采集： 利用 128 条并行激光束加速测量周期，提高生产率。
- 非接触式测量： 无需标记或物理改动即可检查表面，保持材料完整性。
- 扩展量程： 可进行远距离测量，超越了传统光学计量系统的能力。
- 耐用且便携： 专为多种环境打造，IP54 额定设计确保了现场作业的可靠性。
- 易于集成： 重量轻且与现有工作流程兼容，实现无缝采用。
Ommatidia 的激光雷达有何特别之处？
传统的 LiDAR 扫描仪和激光测量工具依赖单光束系统，虽然有效，但在严苛条件下可能速度较慢且精度较低。与这种传统方法相反，Ommatidia 的系统利用大规模并行激光雷达，通过多达 128 条并行激光束同时传播 FMCW 激光，从而能够以前所未有的速度采集大面积数据。这大大缩短了振动测试和 3D 激光扫描等任务所需的时间，同时保持了极高的精度。
我们的先进技术解决了从 3D 激光扫描到结构健康监测等各项任务中的挑战。它提供了速度、精度和灵活性，为测量解决方案开辟了新的可能性。本文解释了我们基于 PIC 的激光雷达系统的主要特点和优势，并将其与传统的 3D 扫描仪、振动分析设备和激光振动计进行对比，以展示其相关性。
为什么光子集成电路具有价值
光子集成电路 (PIC) 是一项突破性技术，改变了光学系统在工业环境中的运作方式。因此，以下是 PIC 使 Ommatidia 激光雷达表现更出色的原因：
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紧凑设计：
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PIC 将多个光学元件集成在单个芯片上，使系统更小、更轻。这使得它们易于移动并在狭窄空间内安装。
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能源效率：
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与旧系统相比，PIC 的功耗更低，使其在长期使用中更具成本效益。这对于风力涡轮机维护等远程监测工作尤其有帮助。
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高可靠性：
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更少的移动部件意味着更少的磨损，从而延长了使用寿命并减少了维修次数。
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更快的数据处理：
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PIC 处理数据速度极快，可提供实时结果，这对于机器状态监测等任务至关重要。
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可扩展性：
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PIC 允许系统轻松扩展规模或功能，使其能够适应各种项目需求。
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为什么选择 Ommatidia 的激光雷达？
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非接触式测量：在加速度传感器等传统工具无法工作的危险区域，确保工作人员的安全。
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可靠数据：先进的处理技术可降低噪声，提供清晰的见解，非常适合机器状态监测。
3
易于集成：可与激光跟踪仪和机器人全站仪等现有系统配合使用，融入当前的工作流程。
4
面向未来： 我们的系统基于 PIC 构建，能够随着行业需求的变化而不断适应。
Ommatidia 的激光雷达系统不仅仅是工具，更是为当今工业设计的解决方案。
