Die CLEO vereint das Gebiet der Laser und Elektrooptik in einer einzigen Konferenz und bringt alle Aspekte der Lasertechnologie zusammen. Sie wird dieses Jahr virtuell abgehalten und zeigt Fortschritte im gesamten Spektrum der Photoniktechnologie. In diesem Jahr demonstriert Ommatidia LiDAR die Fähigkeit seiner Technologie, eine ausgezeichnete Winkelauflösung und Seitenlinienunterdrückung für hochgenaue metrologische Anwendungen zu erzielen. Diese Ergebnisse, die aus einer Zusammenarbeit mit der ESA für die In-Orbit-Metrologie stammen, zeigen das Potenzial für hochdichte Punktwolken und eine Messgenauigkeit im Mikrometerbereich.

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